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半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,XRD物相分析检测价格,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。

为什么晶粒尺寸的变化会引起 X 射线衍射的峰线宽化?

  理想的晶体是在三维空间中无i限的周期性延伸的,所以,如果不考虑仪器宽化的因素,那么理想晶体的衍射峰应该是一条线,但是实际晶体都是有尺寸的,即,周期性不是无i限的,这就造成了由于结晶粒度引起的宽化,如果结晶粒度无i限小下去,衍射峰就会宽化直至消失变成大鼓包了,也就是非晶了。



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晶体晶粒细化,多晶试样中存在宏观应力时,衍射花样的变化情况是怎样?

  不管是粉末试样还是(多)晶体试样,粉末颗粒或晶粒太粗,参加衍射的晶粒少,会使衍射线条起麻,衍射的重现性但粉末颗粒或晶粒过细时,会使衍射线条变宽,这些都不利于分析工作。存在宏观内应力的效应是使得衍射环或衍射峰的位置改变,导致底片上的衍射线条变宽,四川XRD物相分析检测,不利于分析工作。



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X射线衍射仪XRD项目简介:

X射线衍射仪 (X-ray diffraction,XRD)是通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,XRD物相分析检测平台,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,XRD物相分析检测报告,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。

常规广角: 3-120°,测试速率:10°/min、5°/min、2°/min、2°/min。



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