半导体XRD研究所 大功率XRD检测机构

大功率XRD检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

XRD在无机合成中物相分析的应用包括定性分析和定量分析两个方面。定性相分析的目的是判定物质中的物相组成，就是确定物质中所包含的结晶物质以何种结晶状态存在。XRD衍射线的位置取决于晶胞的形状和大小，也取决于各晶面间距，而衍射线的相对强度则取决于晶胞内原子的种类、数目及排列方式。不同晶体物质都有不同的结构，所以具有不同的衍射花样。当物质中包含多种的晶体物质时，它们的衍射花样互不干扰。从XRD中得到各自晶体的衍射花样，我们就能来确定物质中的晶体。每种晶体物质都具有特定的晶体结构和点阵参数，不同物相的晶体有不同的X射线衍射图样，也就是不同的衍射线束方向和衍射强度。在鉴定物质时，主要利用Hanawalt数字索引，大功率XRD检测机构，将得到的谱图与标准PDF卡片对比，如对镍进行X射线衍射得到图1所示衍射图谱，将其与标准PDF卡片对比，发现其与PDF卡片65－2865数据相符，因此证明其为单质因此证明其为单质Ni.将磷钨酸进行X射线粉末衍射，得到图2所示衍射图谱，再与标准PDF卡片对照，大功率XRD检测分析，发现其与PDF卡片50-0304相符，证明其为H3PW12O40·6H20.

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XRD与XRF的区别

XRD与XRF的区别：

1，用途：XRD：测定晶体的结构，大功率XRD检测哪里可以做，XRF：元素的定性、定量分析。

2，原理：XRD的基础是X射线的相干散射，布拉格公式、晶体理论；XRF基于莫斯莱定律，特征X射线为基础的。

3，仪器：单色X射线光源，不需要分光晶体。

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X射线衍射仪是对物质和材料的组成和原子级结构进行研究和鉴定的基本手段。X射线衍射仪对单晶、多晶和非晶样品进行结构参数分析，如物相鉴定和定量分析、室温至高温段的物相分析、晶胞参数测定（晶体结构分析）、多晶X-射线衍射的指标化以及晶粒尺寸和结晶度的测定等。可地测定物质的晶体结构，如：物相定性与定量分析，衍射谱的指标化及点阵参数。

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