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- 2022-10-27 10:21:12
半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,XRD倒易空间(RSM)检测机构,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,XRD倒易空间(RSM)检测价格,以及行业应用技术开发。
[物相分析方面的问题] 样品卡与标准卡对比原则?
提供几条原则供大家参考:
1. .对比 d 值比对比强度要重要;
2. 低角度的线要比高角度的线要重要;
3. 强线比弱线重要;
4. 要重视特征线;
5. 同一个物相可能有多套衍射数据,但要注意有的数据是被删除的;
6. 个别低角度线出现缺失;
7. 由于样品择优取向某些线的强度会发生变化;
8. 有时会出现无法解释的弱线,XRD倒易空间(RSM)检测测试,这是正常的,不能要求把所有的线都得到解释。
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半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
SAXS
SAXS又称为小角x射线散射,西藏自治XRD倒易空间(RSM)检测,如果试样具有不同电子密度的非周期性 结构(晶区和非晶区),则x射线被不相干 散射,有波长的改变,这种过程称为漫射x射线衍射效应(简称散射),在小角度上测定所以又称为:小角x射线散射 (SAXS)。
WAXD
WAXD又称为大角X射线衍射,如果试样具有周期性结构(晶区),则x射线被相干散射,入射光与散射光之间没有波长的改变, 这种过程称为x射线衍射效应,在大角度上测定:又称为大角X射线衍射(WAXD)
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XRD倒易空间(RSM)检测半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
便携式XRD分析仪
布拉格方程是X射线在晶体中产生衍射需要满足的基本条件,其反映了衍射线方向和晶体结构之间的关系。
布拉格方程:2dsinθ=nλ
其中,θ为入射角、d为晶面间距、n为衍射级数、λ为入射线波长,2θ为衍射角
X射线发生系统(产生X射线)是“太阳”,测角及探测系统(测量2θ和获得衍射信息)是其“眼睛”,记录和数据处理系统是其“大脑”,三者协同工作,输出衍射图谱。X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征,经过处理得到衍射图谱。
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