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- 发布时间
- 2022-10-28 10:30:49
半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
X射线衍射
X射线衍射作为一电磁波投射到晶体中时,会受到晶体中原子的散射,而散射波就像从原子中心发出,锂电XRD检测哪里可以做,每个原子中心发出的散射波类似于源球面波。由于原子在晶体中是周期排列的,这些散射球波之间存在固定的相位关系,会导致在某些散射方向的球面波相互加强,而在某些方向上相互抵消,从而出现衍射现象。
每种晶体内部的原子排列方式是,因此对应的衍射花样是,锂电XRD检测机构,类似于人的指纹,因此可以进行物相分析。其中,衍射花样中衍射线的分布规律是由晶胞的大小、形状和位向决定。衍射线的强度是由原子的种类和它们在晶胞中的位置决定。
XRD原理常见疑难问答
(1)在做X射线衍射时,如果选用不同的阳极靶材,例如用铜靶或者钴靶,得到的衍射谱图会一样吗?如果不同的话,峰的位置和强度有啥变化吗?有规律吗?
不同的靶,其X射线特征波长不同,根据布拉格方程2dsinθ=nλ,某一间距为d的晶面族其衍射角将不同, 各间距值的晶面族的衍射角将表现出有规律的改变。因此,贵州锂电XRD检测,使用不同靶材的X射线管所得到的衍射图上的衍射峰的位置是不相同的,衍射峰位置的变化是有规律的。(每种晶体结构的晶面间距d是固定的,与何种靶材X射线管无关)
衍射图上衍射峰间的相对强度主要决定于晶体的结构,但是由于样品的吸收性质也和入射线的波长有关。因此同一样品用不同靶所取得的图谱上衍射峰间的相对强度会稍有差别,与靶材有关。
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小角XRD
小角XRD和广角XRD对应,即测试低角度区域,称为小角XRD,测试范围一般为0.5-10 °。小角XRD一般可以探测到更多的微观信息,比如介孔样品除了做物理吸脱附的表征,也可以通过测试小角XRD验证介孔是否规整。
变温XRD
变温XRD,锂电XRD检测服务,顾名思义,就是改变温度测试XRD, 可测温度范围是95 K-1200℃,测试气氛可以是空气、氮气、气、真空或者二氧化碳。一般情况下需要设置测试的温度点,如室温、100 ℃、300 ℃、500 ℃等,升温速率以及XRD的角度测试范围。此外,还要求样品在测试温度范围内不熔化。
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如何在Jade中采用Sherrer公式计算晶粒尺寸?
Jade软件中直接集成了采用半峰宽来计算样品的晶粒尺寸这一功能,比较方便。要想使用该功能,首先必须在Edit--gt;Preferences--gt;Report里面勾上,Estimate Crystallite Size from FWHM Values。勾上之后就可以很方便的进行粒径分析了,如下图所示,采用EditToolbar中的积分按钮,在主峰下拉取基线,会自动弹出窗口,里面包含晶粒尺寸信息。注意,这里算出来的是平均尺寸,且使用范围为3-200 nm。
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