上海XRD物相分析检测 半导体XRD测试电话

XRD物相分析检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，上海XRD物相分析检测，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

EDS及XRD的性能区别

1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。

2、EDS (Energy Dispersive Spectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析范围：4-100号元素定性定量分析。

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XRD因其的优点，广泛应用于医学、工业和研究领域中，XRD也可用于小角度散射、微晶粒尺寸和X射线微观应力的测定，这使得XRD具有更广泛的应用。使用中定性分析需完善PDF卡片，衍射仪要求分辨率高；定量分析中要尽量减少择优取向，因此XRD的联用技术具有很大的开发潜力。如何将XRD与其它技术进行联用，更好的利用其衍射数据进行分析仍是一个热点问题。

2.为什么XRD测试要求薄膜（块体）样品尺寸要合适？

因为放置薄膜（块体）样品的样品台尺寸是固定的，用橡皮泥来固定样品，样品太大放不进去，样品太小不好固定。

3.为什么XRD数据的峰强度较低，XRD物相分析检测分析，甚至没有明显的衍射峰？

样品的衍射峰强度跟样品本身的结晶度有关，其次跟样品量以及仪器的功率都有关系。如果样品量太少的话得到的峰强度就一定会很低，这时候可能增加量来排除是不是样品数量对测试数据产生影响。

4.XRD研究的是材料的体相还是表面相？

因为XRD采用单色X射线为衍射源，一般情况下可以穿透样品从而验证其内部结构与特征，因此XRD研究的是材料的体相结构信息。

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X射线物相分析

X射线照射晶体物相产生一套特定的粉未衍射图谱或数据D-I值。其中D-I与晶胞形状和大小有关，相对强度I/I0，与质点的种类和位置有关。

与人的手指纹相似，XRD物相分析检测多少钱，每种晶体物相都有自己的XPD谱。不同物相物质即使混在一起，它们各自的特征衍射信息也会独立出现，互不干扰。据此可以把任意纯净的或混合的晶体样品进行定性或定量分析。

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