西藏自治XRD晶粒尺寸检测 半导体XRD测试电话

XRD晶粒尺寸检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，XRD晶粒尺寸检测平台，以及行业应用技术开发。

X射线衍射原理及应用介绍：

特征X射线及其衍射 X射线是一种波长很短(约为20～0.06 nm)的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、i气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中，包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征（或标识）X射线。考虑到X射线的波长和晶体内部原子间的距离(10^(-8)cm)相近，1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见：晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即当一束X射线通过晶体时将会发生衍射；衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上增强、而在其它方向上减弱；分析在照相底片上获得的衍射花样，便可确定晶体结构。这一预见随后为实验所验证。

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XRD用于定量分析是因为物相衍射线的强度或相对强度与物相在样品中的含量有关。随着测试理论及测试技术的不断完善和发展，利用衍射花样中的强度来分析物相在试样中的含量，也得到了不断地完善和发展。目前在实验室中较为常用的X射线定量相分析方法有外标法、内标法和基体冲洗法即K值法。值得注意的是:X射线物相定量分析公式中，西藏自治XRD晶粒尺寸检测，其理论基础中假设了被测物相中的晶粒尺寸非常小，各相混合均匀，XRD晶粒尺寸检测分析，晶粒无择优取向，因此在实际应用中，应该在试样制备及标样选择过程中充分考虑上述假设， 特别是制样时应避免重压，减少择优取向。

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XRD衍射仪简介

XRD衍射仪是一种用于化学工程、化学、中医学与中药学、生物学领域的分析仪器，于2018年3月1日启用。

　　技术指标

　　X射线发生器，功率3KW，i管电压60HV，电流80mA，垂直型测角仪，扫描范围:-6°~163°(2θ)， -180°~180°(θ)，扫描速度:0.1~50o/min(2θ)，0.05~25°/min(θ)。配置微量样品池，3Q认证。

　　主要功能

　　晶型结构研究。

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