XRD物相分析检测报告 半导体薄膜测试机构

XRD物相分析检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

XRD测试项目：常规广角: 5--90°，小角：0.5--10°；常规测试速率：10°/min、5°/min、2°/min；小角测试速率：1°/min， 0.5°/min；有其他测试速率请联系当地经理；该测试只得到样品的XRD原始谱图，不包括对数据的处理和分析，需要数据分析请到数据分析栏目联系相关老师；更多测试要求请咨询客户经理。XRD样品要求：

粉末样品请准备至少20mg，北京XRD物相分析检测，0.1g以上，量少可以用微量室，XRD物相分析检测测试，但是效果相对不是很好。需要粒度均匀（粒度在45um左右或过200目筛子），手摸无颗粒感，面粉质感；块状样品要求长宽1-2cm（一般不小于1cm），XRD物相分析检测平台，厚度不超出15mm，需要注明测试面，测试面需要平整光洁。

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X射线衍射在金属学中的应用

X射线衍射现象发现后，很快被用于研究金属和合金的晶体结构，出现了许多具有重大意义的结果。如韦斯特格伦（A.Westgren）(1922年)证明α、β和δ铁都是体心立方结构，β-Fe并不是一种新相;而铁中的α—→γ相转变实质上是由体心立方晶体转变为面心立方晶体，从而终否定了β-Fe硬化理论。随后，在用X射线测定众多金属和合金的晶体结构的同时，在相图测定以及在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的成果。如对超点阵结构的发现，推动了对合金中有序无序转变的研究；对马氏体相变晶体学的测定，确定了马氏体和奥氏体的取向关系；对铝铜合金脱溶的研究等等。目前 X射线衍射(包括X射线散射)已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。

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X射线物相定性分析

粉未X射线物相定性分析无须知晓物质晶格常数和晶体结构，只须把实测数据与（粉未衍射标准联合会）发行的PDF卡片上的标准值核对，就可进行鉴定。

当然这是对那些被测试研究收集到卡片集中的晶相物质而言的，卡片记载的解析结果都可引用。

《粉末衍射卡片集》是目前收集丰富的多晶体衍射数据集，包括无机化合物，有机化合物，矿物质，金属和合金等。1969年美国材料测试协会与英、法、加等多国相关协会联合组成粉末衍射标准联合会，收集整理、编辑出版PDF卡片，每年达到无机相各一组，每组1500-2000张不等.1967年前后，多晶粉未衍射谱的电子计示示机检索程序和数据库相继推出.日本理学公司衍射射仪即安装6个检索程序(1)含947个相的程序;

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XRD物相分析检测报告-半导体薄膜测试机构由广东省科学院半导体研究所提供。广东省科学院半导体研究所为客户提供“结构性能测试,光电性能测试,性能形貌测试”等业务，公司拥有“半导体”等品牌，专注于技术合作等行业。，在广州市天河区长兴路363号的名声不错。欢迎来电垂询，联系人：王小姐。