天津单晶XRD检测 半导体XRD测试电话

单晶XRD检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，单晶XRD检测实验室，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

1923年，康普顿报道了当X射线用几乎与样品表面平行的小角度入射到理想光滑平整的样品表面上时，能够出现镜面反射的特征。入射X射线在样品表面发生全反射的前提是入射角小于或等于临界角αi（入射角）≤αc（αc临界角）。当发生全反射时，由于X射线被全反射，因此探测到的信息几乎全部是样品表面薄层的信息。在对衬底上的薄膜进行分析时，全反射法可以避免来自衬底的干扰信息。

掠入射X射线衍射(GIXRD)是一种让X射线略过样品表面的技术，这种技术能够更真实地表征出薄膜（特别是共辄聚合物薄膜)的微结构。测试光是平行光，相对于常规的衍射光来说能量较小，因此掠入射测试XRD的谱图峰强相对较弱。但是平行光可以更好的关注薄膜表面的信息，也不容易测到基底，因此掠入射XRD专门用于测试薄膜样品。薄膜尺寸没有特别要求，但是需要测试面平整光洁，不要有遮挡物，这样测试结果才真实可信。

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基于Omega扫描全自动晶体定向仪应用

如果只测量一个或几个主要方向的材料，则可以使用所描述的简单类型的排列方式，对于每个不同类型的反射都有对应的合适的面罩。有时，为了扩大接收角范围，可以使用两个探测器。

为了更广泛的应用，该装置配备有X射线管和探测器系统的设置能力。

图3是用于研究放置在测量台上的表面均匀的晶体的桌面衍射仪。它的射线和检测装置安装在设备下方，单晶XRD检测平台，可以应用于大量的晶体种类和取向。

可调止动器允许测量方位角，例如晶片的平面或凹口。

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XRD可以应用于多个行业，天津单晶XRD检测，提供简单、直接的相分析。常见的XRD应用包括：

　　矿石与矿产

　　石油化工

　　危险物

　　制药业药品成分辨别

　　浪声XRD产品优势

　　便携式：仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。

　　集成性：XRD与XRF 技术集成，在每次检测中，能够同时采集XRD和XRF的X射线光子数据，提供物质成分、物相及结构信息，从而促进检测结果更加准确。

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