广东XRD掠入射（GIXRD）检测 半导体XRD测试电话

XRD掠入射（GIXRD）检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

－ray)又称艾克斯射线或Xi光是波长介于紫外线和γ射线间的电磁辐射。它与线、电子并称为19世纪末20世纪初物理学的三大发现，X射线的发现标志着现代物理学的产生。X射线是一种波长很短的电磁辐射，其波长约为(20～0.06)×10－8 cm之间。由德国物理学家WK伦琴于1895年发现，故又称伦琴射线，并于1901年获诺贝尔物理学奖。伦琴射线具有很高的穿透能力，能透过许多对可见光不透明的物质，XRD掠入射（GIXRD）检测机构，如墨纸、木料等。这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片感光以及空气电离等效应，波长越短的X射线能量越大，叫做硬X射线，波长长的X射线能量较低，称为软X射线。

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怎么分析XRD图谱

1、XRD图中有很多信息，如组成（物相）和结构、粒度、应力、结晶度等，其分析方法各不相同。

2、比如，若是做物相分析，样品是已知物质的，你只要将XRD图谱与标准图进行比对就可以大致判断，一般设备中都会提供已知物数据库，供调用比对。

3、当然杂相分析就需要一定的经验了，不是一两句话就能说清楚的。

4、若是做的未知物（新物相），则必须做纯，再用相应软件如PowderX等来处理，也有一定的技巧。

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在金属中的主要应用有以下方面：

物相分析 是X射线衍射在金属中用得多的方面，又分为定性分析和定量分析。定性分析是把对待测材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据进行比较，以确定材料中存在的物相；定量分析则根据衍射花样的强度，确定待测材料中各相的比例含量。

取向分析 包括测定单晶取向和多晶的结构（如择优取向）。测定硅钢片的取向就是一例。另外，为研究金属的范性形变过程，如孪生、滑移、滑移面的转动等，也与取向的测定有关。

晶粒（嵌镶块）大小和微观应力的测定 由衍射花样的形状和强度可计算晶粒和微应力的大小。在形变和热处理过程中这两者有明显变化，它直接影响材料的性能。

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