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- 2022-11-10 10:31:44
XRD残余应力检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
XRD用于定量分析是因为物相衍射线的强度或相对强度与物相在样品中的含量有关。随着测试理论及测试技术的不断完善和发展,利用衍射花样中的强度来分析物相在试样中的含量,也得到了不断地完善和发展。目前在实验室中较为常用的X射线定量相分析方法有外标法、内标法和基体冲洗法即K值法。值得注意的是:X射线物相定量分析公式中,内蒙古自治XRD残余应力检测,其理论基础中假设了被测物相中的晶粒尺寸非常小,各相混合均匀,晶粒无择优取向,因此在实际应用中,应该在试样制备及标样选择过程中充分考虑上述假设, 特别是制样时应避免重压,减少择优取向。
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XRD与XRF的区别
XRD与XRF的区别:
1,用途:XRD:测定晶体的结构,XRF:元素的定性、定量分析。
2,原理:XRD的基础是X射线的相干散射,布拉格公式、晶体理论;XRF基于莫斯莱定律,特征X射线为基础的。
3,仪器:单色X射线光源,不需要分光晶体。
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基于Omega扫描全自动晶体定向仪原理
单晶的生长和应用需要确定其相对于材料外表面或其它几何特征的晶格取向。
目前主要采用的定向方法是X射线衍射法,测量一次只能获取一个晶格的平面取向,XRD残余应力检测平台,测量出所有完整的晶格取向需要进行反复多次测量,XRD残余应力检测价格,通常是进行手动处理,而完成这个过程至少需要几分钟甚至数十分钟。
全自动晶体定向仪采用先进omega扫描方法进行扫描测试,Omega全自动晶体定向仪可以在很短的时间内,通过一次测量获取晶体的全部晶格数据。
因此,omega全自动晶体定向仪特别适合于系列研究和工业应用。
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