西藏自治半导体XRD检测 半导体XRD物相分析

半导体XRD检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，半导体XRD检测服务，以及行业应用技术开发。

EDS，XRD和XPS进行成分分析的相同点和不同点是什么

能谱仪，是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。EDS的分析结果里面会有原子比（atomic%）和元素比（也就是质量比，半导体XRD检测测试，weight%）的数据，这里要提醒大家注意一点，因为EDS分析并没有那么，所以尽管分析报告的结果会有两位小数，但只取一位小数就够了。

　　X射线光电子能谱(XPS )是一种表面分析方法，提供的是样品表面的元素含量与形态，而不是样品整体的成分。其信息深度约为3-5nm。原则上可以测定元素周期表上除氢、氦以外的所有元素。

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－ray)又称艾克斯射线或Xi光是波长介于紫外线和γ射线间的电磁辐射。它与线、电子并称为19世纪末20世纪初物理学的三大发现，X射线的发现标志着现代物理学的产生。X射线是一种波长很短的电磁辐射，其波长约为(20～0.06)×10－8 cm之间。由德国物理学家WK伦琴于1895年发现，故又称伦琴射线，并于1901年获诺贝尔物理学奖。伦琴射线具有很高的穿透能力，能透过许多对可见光不透明的物质，如墨纸、木料等。这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片感光以及空气电离等效应，波长越短的X射线能量越大，叫做硬X射线，波长长的X射线能量较低，称为软X射线。

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一X衍射基本原理 当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉。

在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，西藏自治半导体XRD检测，与晶体结构密切相关，每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

二晶体的基本概念晶体：物质内部质点(原子、分子、离子)呈规律排列的固体，为“空间格子”状。

晶胞：晶体的重复单位。可以用3个晶轴的长度a、b、c及其夹角α、β、γ6个晶胞参数来描述。

晶面：结晶格子内所有的格子点全部集中在相互平行的等间距的平面群上，这些平面叫做晶面，晶面的间距为d。用晶面指数（Miller指数）来标记。（通过晶体中原子中心的平面叫作晶面）。

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