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XRD物相分析检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。

-ray)又称艾克斯射线或Xi光是波长介于紫外线和γ射线间的电磁辐射。它与线、电子并称为19世纪末20世纪初物理学的三大发现,X射线的发现标志着现代物理学的产生。X射线是一种波长很短的电磁辐射,其波长约为(20~0.06)×10-8 cm之间。由德国物理学家WK伦琴于1895年发现,故又称伦琴射线,并于1901年获诺贝尔物理学奖。伦琴射线具有很高的穿透能力,能透过许多对可见光不透明的物质,如墨纸、木料等。这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光,使照相底片感光以及空气电离等效应,波长越短的X射线能量越大,叫做硬X射线,波长长的X射线能量较低,称为软X射线。

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多相物质定性分析

测XRD谱,得d值及相对强度后查索引,XRD物相分析检测价格,得卡片号码后查到卡片,在±1%误差范围内若解全部数据符合,则可判断该物质就是卡片所载物相,其晶体结构及有关性能也由卡片而知。这是单一物相定性分析。

多相混合物质的XRD谱是各物相XRD谱的迭加,某一相的谱线位置和强度不因其它物相的存在而改变,除非两相间物质吸收系数差异较大会互相影响到衍射强度。固熔体的XRD谱则以主晶相的XRD为主。

已知物相组分的多相混合物,辽宁XRD物相分析检测,或者先尝试假设各物相组分,它们的XRD谱解析相对要容易得多。分别查出这些单一物相的已知标准衍射数据,d值和强度,将它们综合到一起,就可以得到核实其有无。如钢铁中的δ相(马氏体或铁素体)γ相(奥氏体)和碳化物多相。



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Omega扫描方法的原理如图1所示。在测量过程中,晶体以恒定速度围绕转盘中心的旋转轴,XRD物相分析检测多少钱,即系统的参考轴旋转,X射线管和带有面罩的数据探测器处于固定位置不动。

X射线光束倾斜着照射至样品,经过晶体晶格反射后探测器进行数据采集,在垂直于旋转轴(ω圆)的平面内测量反射的角位置。

选择相应的主光束入射角,并且检测器前面的面罩进行筛选定位,从而获得在足够数量的晶格平面上的反射,进而可以评估晶格所有数据。整过过程必须至少测量两个晶格平面上的反射。

对于对称轴接近旋转轴的晶体取向,XRD物相分析检测实验室,记录对称等值反射的响应数(图2),整个测量仅需几秒钟。

利用反射的角度位置,计算晶体的取向,例如,通过与晶体坐标系有关的极坐标来表示。此外,omega圆上任何晶格方向投影的方位角都可以通过测量得到。



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