半导体薄膜测试机构 XRD小角度检测哪家好

XRD小角度检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，XRD小角度检测哪家好，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，XRD小角度检测分析，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

X射线物相定性分析

粉未X射线物相定性分析无须知晓物质晶格常数和晶体结构，只须把实测数据与（粉未衍射标准联合会）发行的PDF卡片上的标准值核对，就可进行鉴定。

当然这是对那些被测试研究收集到卡片集中的晶相物质而言的，卡片记载的解析结果都可引用。

《粉末衍射卡片集》是目前收集丰富的多晶体衍射数据集，包括无机化合物，有机化合物，矿物质，金属和合金等。1969年美国材料测试协会与英、法、加等多国相关协会联合组成粉末衍射标准联合会，收集整理、编辑出版PDF卡片，每年达到无机相各一组，每组1500-2000张不等.1967年前后，多晶粉未衍射谱的电子计示示机检索程序和数据库相继推出.日本理学公司衍射射仪即安装6个检索程序(1)含947个相的程序;

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XRD在材料、化学、生物、地质、方面具有广泛运用。它主要应用为 物相鉴定、织构分析、应力测试 。下面我们将以实例分析来看看怎么处理分析XRD实验数据。

1——结晶与取向判断

(1)由照片判断

(2)由衍射图判断

如： “宽隆”峰表明无定型;“尖锐”峰表明存在结晶或近晶。

2——同种结晶化合物的两种不同晶型

3——插层材料表征-衍射角及晶面间距的变化

4——衍射谱线

一张衍射图谱上衍射线的位置(方向)仅和原子排列周期性有关;衍射线的强度则取决于原子种类、含量、相对位置等性质;衍射线的位置和强度就完整地反映了晶体结构的二个特征，从而成为辨别物相的依据。

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一X衍射基本原理 当一束单色X射线入射到晶体时，云南XRD小角度检测，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，XRD小角度检测实验室，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉。

在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关，每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

二晶体的基本概念晶体：物质内部质点(原子、分子、离子)呈规律排列的固体，为“空间格子”状。

晶胞：晶体的重复单位。可以用3个晶轴的长度a、b、c及其夹角α、β、γ6个晶胞参数来描述。

晶面：结晶格子内所有的格子点全部集中在相互平行的等间距的平面群上，这些平面叫做晶面，晶面的间距为d。用晶面指数（Miller指数）来标记。（通过晶体中原子中心的平面叫作晶面）。

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