- 发布
- 广东省科学院半导体研究所
- 电话
- 020-61086420
- 手机
- 13560436009
- 发布时间
- 2022-12-01 10:04:01
单晶XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
另外,也可以利用谢乐公式计算:
谢乐公式的应用方法Dc = 0.89λ /(B cos θ)(λ为X 射线波长, B为衍射峰 半高宽, θ 为衍射角)双线法(Williams-Hall)测定金属晶体中的微观应力。晶块尺寸小于0.1μm,且有不均匀应变时衍射线宽化。可用谢乐方程或Hall法作定量计算。谢乐方程的假设是试样中没有晶体结构的不完整引起的宽化,则衍射线的宽化只是由晶块尺寸造成的,而且晶块尺寸是均匀的。需注意,晶粒大于100纳米以上,用谢乐公式不太准确,因为其半高宽的原因。准确的是在40nm左右,但是,低于100n都可以谢乐公式来算。另外,谢乐公式只适合球形粒子。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~单晶XRD检测
单晶XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
XRD小角衍射与普通XRD的区别
一、指代不同
1、小角衍射:利用电子显微镜中聚焦的电子束照射 样品,电子在原子的静电场作用下发生散射。
2、XRD:通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
二、特点不同
1、小角衍射:消除反射、折射 和二次散射后,经放大得到试验的高分散衍射。
2、XRD:用于确定晶体结构。其中晶体结构导致入射X射线束衍射到许多特定方向。 通过测量这些衍射光束的角度和强度,单晶XRD检测报告,晶体学家可以产生晶体内电子密度的三维图像。 根据该电子密度,单晶XRD检测平台,可以确定晶体中原子的平均位置,以及它们的化学键和各种其他信息。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~单晶XRD检测
单晶XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
常见的单晶生长方法
1.溶剂缓慢挥发法
挥发化合物的近饱和溶液
干净光滑的器皿,但是全新的玻璃仪器效果往往也不好
合适的溶剂:沸点适中,不能太高或太低,60 ~ 90 度较合适。可以用不良溶剂和良溶剂的混合溶剂溶解化合物 (不良与良溶剂必须互溶,单晶XRD检测费用多少,且沸点要高于良溶剂。如,里可加适量水),以避免在溶剂体积特别小时才析出晶体。
过滤:注意避免将滤纸上的纤维带入滤液。
封口、挥发:可用保鲜膜封好口,台湾单晶XRD检测,用很细的针戳孔,通过孔的数量来控制挥发速度。
清洁稳定的环境
注意:缓慢挥发,不能让溶剂完全挥发。
常用溶剂:、乙醇、、-水及 CH2Cl2-正己烷等。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~单晶XRD检测