单晶XRD检测 半导体研究所

单晶XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

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用处不同

1、小角衍射：主要用于高分子物质的结构分析。

2、XRD：已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~单晶XRD检测

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多晶X射线衍射仪的基本构造

多晶X射线衍射仪，也称粉末衍射仪，通常用于测量粉末、多晶体金属或者高聚物块体材料等。主要由四个部分构成：

1.X 射线发生器(产生X射线的装置)

2.测角仪(测量角度2θ的装置)

3.X射线探测器(测量X射线强度的计数装置)

4.X射线系统控制装置(数据采集系统和各种电气系统、保护系统等)

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12.样品不压实的话会有什么影响呢？

样品不压实，表面就会有颗粒感，或者表面会坑坑洼洼。而且大部分样品台都是中间镂空来制样的，样品不压实可能在把样品从制样台转移到衍射仪里面的时候粉末还会漏掉，得不偿失！

13.样品高度不够的话，或者粉末量太少，测试出来后，单晶XRD检测多少钱，再修订可以吗？

这样可能会测到基底，在低角度区域生成一个非晶漫散峰，这种在扣除背底的时候是可以扣掉的，但是这时候要明确一点就是这个鼓包峰到底是扫到基底产生的还是样品非晶物质产生的，所以好是用不会产生非晶漫散峰的单晶硅片或者石英玻璃样品架来制样。

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