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锂电XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

但是，Kβ滤片不能去除样品产生的荧光 X 射线对衍射图的影响。荧光 X 射线的强度将叠加在衍射图的背景上，锂电XRD检测分析，造成很高的背景，不利于衍射图的分析。因此，对于 X 射线衍射仪 来讲，如果设备没有配置弯晶石墨单色器仅使用 Kβ滤片，选波长(或者说选靶)主要考虑的就是样品中的主要组成元素不会受激发而产生强烈的荧光X 射线。如果分析样品中的元素的原子序数比靶的元素的原子序数小1至4，就会出现强的荧光散射。

例如使用 Fe 靶分析主要成分元素为 Fe、Co、Ni 的样品是合适的，锂电XRD检测费用多少，而不适合分析含有 Mn Cr V Ti 的物质;Cu 靶不适合于分析有 Cr，Mn，Fe，Co，Ni 这些元素的物质。所以，锂电XRD检测哪家好，对于 Cr 是主要组成元 素的样品，只能选择 Cr 靶 X 射线管。

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XRD 峰整体向右偏移是什么原因造成的?

可能是离子半径小的元素取代了离子半径大的元素。

也可能是你制样时，样品表面高出了样品座平面或者仪器的零点不准造成的，建议你好用标样来修正你的数据。

把样品靠后放置，使样品偏离测角仪中轴大概有 1mm，请问衍射峰会怎么变化?

峰位移向低角度。样品表面偏离测角仪转轴 0.1mm，衍射角的测量将产生约 0.05度(2θ)的误差(对 Cu 靶，在 2θ 20度附近的位置)。

影响仪器测量结果的分辨率仅仅取决于θ吗?

影响仪器测量结果的分辨率的因素是多方面的：测角仪的半径;X 射线源的焦斑尺寸;光学系统的各种狭缝的尺寸;仪器调整情况(2：1 关系);采数步宽;样品定位情况等。

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Fullprof精修中的 scale 的初值一般是怎么确定的?

比例因子 scale 是指理论计算数据与实验数据之间的比值，一般随便给就可以，不会影响精 修的。只要你的初始模型正确，几轮就可以修到比较合理的值。

做Rietveld 时发现：如果事先对原始数据进行平滑等一系列的预处理会比较容易使R 因子 减小，这样的做法是否不妥？

做 Rietveld 时，是不需要对数据进行平滑处理的，因为平滑处理肯定会使数据在一定程度上失真的。不过，在不影响峰形的前提下进行轻度的平滑处理也是可以的。

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