XRD摇摆曲线检测报告 半导体XRD物相分析

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7.如果将晶体块体研磨成粉后会不会就变成多晶了呀？

样品的形态和晶体结构的类型或者种类没有直接关系，块体研磨成粉末也是一样的结构，对晶体结构不会造成本质的变化。

8.请问老师样品压的时候就很容易粘在玻片上，表面很难控制平整光滑，这种情况应该怎么办？

可以多准备样品，用玻璃片压实之后，顺时针不断打圈，这样可以消除样品表面的褶子或者不平整的地方。

9.晶胞指数只有hkl吗？

晶胞指数或者密勒指数，XRD摇摆曲线检测报告，就是hkl，这是他的定义。

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单晶X射线衍射是利用单晶体对 X射线的衍射效应来测定晶体结构的实验方法。依照强度记录方式的不同，可分为照相法和衍射仪法两类。

照相法使射线作用在胶片上，然后测量底片上衍射点的黑度来获得衍射线的强度数据，根据实验装置和条件的差别，又分为多种方法。

劳厄照相法用连续波长的 X射线照射到静止不动的单晶体上，通常采用平板底片，所摄得的衍射图称为劳厄图。劳厄图常用来测定晶体的对称性和用于晶体的定向等。

优点

形貌观察与结构分析结合

使晶体结构的研究直观，比X射线衍射的简单。

散射能力强，北京XRD摇摆曲线检测，曝光时间短

缺点

只能用来分析方向问题，不能用来测量衍射强度

要求试样薄，试样制备工作复杂

在精度方面也远比X射线低

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双晶衍射仪法

双晶衍射仪的原理大致为，一束特征X射线经准直后入射到高度完整的参考晶体a上，a可以去对称或不对称Bragg几何把X射线作选择反射。由于a的高度完整，使自a反射的X射线的单色性和发散度都得到明显改善。改善的X射线入射到样品上，样品的衍射记录在探测器上。

为了提高入射线的平行度和色性，可用多块晶体代替参考晶体a，如果把样品在其选定衍射的Brag角附近绕垂直于微入射面的轴转动，就可获得样品的反射强度随角度变化的曲线，即所谓摇摆曲线。从摇摆曲线可提取的信息有：

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