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- 2022-12-29 15:22:45
XRD薄膜检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
1.如果谱图中出现了并峰（两个峰并成了一个大峰）怎么解释？
答：出现并峰的这两个峰应该离的很近，并峰说明这两个峰对应的晶面没有长好（如果对样品进行了某种处理，那么也有可能这种处理方式破坏了这两个晶面）
2.当某种物质部分结晶时，为使定量，有没有其他辅助方式？
答：部分结晶的物相至少要出现三强峰，此时可以进行定量无需辅助。否则不能进行定量。
3.研磨样品200目怎么控制呢？
答：200目是大概的范围，可以用筛子筛分。
4.晶胞结构亚微米级别，研磨以后会不会破坏晶体结构，XRD薄膜检测哪里可以做，影响分析？
答：过度研磨是会破坏晶体结构，影响分析的。
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18.结晶度计算，热分析的结果和Jade分析结果有偏差，那个结果更加可信？
答：DSC测量结晶度的数据不太可靠，主要是由于材料的结晶度与其结晶过程的热历史关系非常紧密，是淬火、退火、抑或是别的过程，我们不得而知。而进行DSC操作时，一般我们首先要急速升温至其熔点以上以消除热历史，然后再进行等温结晶或者非等温结晶过程，XRD薄膜检测实验室，这种过程无法描述真实的结晶过程。由于结晶过程存在松弛，因此升降温速率对于试验结果影响很大。XRD法通过计算机分峰，可以准确地测量出结晶度，而消除了热历史造成的试验误差。
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XRD定性分析
实际上，XRD作为定性分析手段并不是盲目的，不是所有情况都需要通过Jade对样品进行Search amp; Match， 而实际上Jade由于标准卡片的数目限制也无法涵盖所有物质的标准谱图。因此，借助分析软件只是为了便利，XRD薄膜检测分析，从根本上来说，北京XRD薄膜检测，重要的是XRD谱图本身。这一点和物理吸脱附实验一样，关键的是吸附等温线，而比表面积，孔容孔径只是采用理论模型针对吸附等温线进行处理而已。这个本末关系大家一定要搞清楚。
为了强调XRD谱图本身的重要性，采用合金的形成与否作为例子进行简单地介绍。对于双金属(多金属)纳米颗粒而言，XRD是一种常见的判断其是否形成合金的手段。判断的依据不是基于JCPDS标准图谱，而仅仅基于XRD衍射图样。
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