上海XRD倒易空间（RSM）检测 半导体XRD测试电话

XRD倒易空间（RSM）检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，XRD倒易空间（RSM）检测哪里可以做，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

用 XRD 图来精修出分子结构研究分子的性质， 收集 XRD 时应注意些什么?

强度要高，中等强度的衍射峰强度要达到 5000 计数以上；衍射峰的分辨要尽可能的好；扫描范围要大，大 d 值的峰不能缺失。衍射峰的强度和很多因素有关，比如样品的衍射能力，性质，还有仪器功率，测试方法，检测器的灵敏度等等。

做 XRD 时步长一般为 0.02 度，但是如果要做 Rietveld 分析，XRD倒易空间（RSM）检测测试，出了强度要求 500 以上，步长有没有什么要求啊？

一个半峰宽内有 3-5个点就可以了，步长一般为 FWHM 的 0.2-0.3 就可以了。强度要求在之间。

3如果用普通的xrd仪器如 brucker D8或者 philips 等测试粉末的 xrd，上海XRD倒易空间（RSM）检测，扫描速度需要多慢才适合用 gsas 等方法作rietveld分析，需要加内标吗？

扫描速度的快慢是根据你的数据强度要求来确定的，如果要做结构精修，中等强度的衍射峰的强度应该在 5000 以上，至于内标是不需要的。

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Fullprof精修中的 scale 的初值一般是怎么确定的?

比例因子 scale 是指理论计算数据与实验数据之间的比值，一般随便给就可以，不会影响精 修的。只要你的初始模型正确，几轮就可以修到比较合理的值。

做Rietveld 时发现：如果事先对原始数据进行平滑等一系列的预处理会比较容易使R 因子 减小，这样的做法是否不妥？

做 Rietveld 时，是不需要对数据进行平滑处理的，因为平滑处理肯定会使数据在一定程度上失真的。不过，在不影响峰形的前提下进行轻度的平滑处理也是可以的。

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好有其它分析、测量得到的化学、物理信息要紧的是需要比较可靠的化学组成分析结果，用来计算出化学式；如有可能，好能测定出样品密度，以便用于计算晶胞内容。可以用专门的仪器测定密度。如果自己手头缺乏密度测定仪器，可以把粉末压片，用千分尺量出样品直径和厚度计算体积，用电子天平测出重量，得到实验测量的密度值（肯定比理论值小，因为有空隙），但比没有数据好多了。

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