天津XRD摇摆曲线检测 半导体薄膜测试机构

XRD摇摆曲线检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

XRD测试能够给出什么物理信息

常规XRD测试给出的是晶体样品物相信息，比如测定晶体二氧化硅粉末时，可以得到该样品的X射线衍射图谱。衍射谱是由样品在X射线照射下产生的，随着角度的变化，逐渐把晶体每个晶面显现出来，形成对应的衍射峰，XRD摇摆曲线检测平台，多个衍射峰形成一张特定衍射谱。某一种物相有对应的衍射谱，若已知衍射谱，天津XRD摇摆曲线检测，也可以反推物相。

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xrd原理

XRD的基本原理：X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。

XRD 即X-ray diffraction 的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。

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XRD与XRF的区别

XRD与XRF的区别：

1，用途：XRD：测定晶体的结构，XRF：元素的定性、定量分析。

2，原理：XRD的基础是X射线的相干散射，布拉格公式、晶体理论；XRF基于莫斯莱定律，特征X射线为基础的。

3，仪器：单色X射线光源，不需要分光晶体。

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