香港特别行政AlGaN材料XRD检测 半导体薄膜测试机构

AlGaN材料XRD检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

X射线物相定量分析

基本原理和分析

在X射线物相定性分析基础上的定量分析是根据样品中某一物相的衍射线积分强度正变化于其含量。不能严格正比例的原因是样品也产生吸收。对经过吸收校正后的的衍射线强度进行计算可确定物相的含量。这种物相定量分析是其它方法，AlGaN材料XRD检测价格，如元素分析、成分组分分析等所不能替代的。

结晶度的XRD测定

高分子结晶体的X射线衍射研究

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精密测阵参数 常用于相图的固态溶解度曲线的绘制。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化；当达到溶解限后，溶质的继续增加引起新相的析出，AlGaN材料XRD检测实验室，不再引起点阵常数的变化。这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可获得单位晶胞原子数，香港特别行政AlGaN材料XRD检测，从而可确定固溶体类型；还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。

宏观应力的测定 宏观残留应力的方向和大小，直接影响机器零件的使用寿命。利用测阵平面在不同方向上的间距的改变，可计算出残留应力的大小和方向。

对晶体结构不完整性的研究 包括对层错、位错、原子静态或动态地偏离平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究（见晶体缺陷）。

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物相定性分析中追求数据吻合程度时，

（1）d值比I/I1值更重要，更优先。因为d测试精度高，重现性好；而强度受纯度（影响分辨率）、结晶度（影响峰形）样品细微度（同Q值时吸收不同），辐射源波长（同d值，角因子不同）、样品制备方法（有无择优取向等）、测试方法（照相法或衍射仪法）等因素影响，不易固定。

（2）低角度衍射线比高角度线重要。对不同晶体而言低角度线不易重迭，而高角度线易重迭或被干扰。

（3）强线比弱线重要。尤其要重视强度较大的大d值线。

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