半导体研究所 香港特别行政锂电XRD检测

锂电XRD检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

XRD用于定性分析可判断新相生成和探讨制备条件对物质组成结构的影响。判断一个反应是否有新相生成，主要是把生成物衍射峰的相对强度和衍射角同反应物各组分的相对强度和衍射角相比，看反应物的衍射峰在生成物中是否有部分消失，生成物中是否出现了新的衍射峰。若生成物的衍射峰仅仅只是各反应物组分衍射峰的简单叠加，则说明未出现新相，生成物只是各反应物的机械混合;反之，若生成物的主要衍射峰的相对强度和衍射角均有明显的变化，在生成物中出现了新的衍射峰，同时反应物各组分的部分衍射峰在生成物中消失，证明形成了新相且新相形成后，物质的结构发生了质的变化，不是反应物的简单机械混合，因为任何具有两相或两种以上物相的混合物，其各物相的衍射线应同时出现在衍射图上。制备条件对物质结构及组成有很大的影响，不同的制备条件对物质的晶相转变有不同的影响。

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XRD用于定量分析是因为物相衍射线的强度或相对强度与物相在样品中的含量有关。随着测试理论及测试技术的不断完善和发展，利用衍射花样中的强度来分析物相在试样中的含量，也得到了不断地完善和发展。目前在实验室中较为常用的X射线定量相分析方法有外标法、内标法和基体冲洗法即K值法。值得注意的是:X射线物相定量分析公式中，其理论基础中假设了被测物相中的晶粒尺寸非常小，各相混合均匀，晶粒无择优取向，因此在实际应用中，应该在试样制备及标样选择过程中充分考虑上述假设， 特别是制样时应避免重压，锂电XRD检测多少钱，减少择优取向。

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X射线衍射仪是对物质和材料的组成和原子级结构进行研究和鉴定的基本手段。X射线衍射仪对单晶、多晶和非晶样品进行结构参数分析，如物相鉴定和定量分析、室温至高温段的物相分析、晶胞参数测定（晶体结构分析）、多晶X-射线衍射的指标化以及晶粒尺寸和结晶度的测定等。可地测定物质的晶体结构，如：物相定性与定量分析，衍射谱的指标化及点阵参数。

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