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- 2022-11-03 02:14:20
半导体XRD检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
X射线衍射原理及应用介绍:
特征X射线及其衍射 X射线是一种波长很短(约为20~0.06 nm)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,辽宁半导体XRD检测,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、i气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线,称为特征(或标识)X射线。考虑到X射线的波长和晶体内部原子间的距离(10^(-8)cm)相近,1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见:晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当一束X射线通过晶体时将会发生衍射;衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上增强、而在其它方向上减弱;分析在照相底片上获得的衍射花样,半导体XRD检测价格,便可确定晶体结构。这一预见随后为实验所验证。
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mdi-jade是处理粉末x射线衍射数据的重要软件,是寻找标准衍射数据的有力工具。因此,它是化学和材料研究人员必备的软件之一。在本文中,小编简要介绍了mdi-jade,并通过一个例子说明了mdi-jade基本的用法。
首先,小编使用的软件版本是MDI Jade 6.0。由于个人设置或软件版本不同,下面的截图可能与读者的截图略有不同。
基本界面
软件的基本界面如上图所示。软件开放界面的菜单栏已经包含了平滑、寻峰、搜索等常用功能。其他比较复杂的功能也需要一些比较繁琐的软件设置,小编这里没有深入的介绍,如果将来有机会的话,半导体XRD检测实验室,我们会一起学习的。本文的内容基本上可以通过上面显示的选项来完成。
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X射线分析的新发展
金属X射线分析由于设备和技术的普及已逐步变成金属研究和材料测试的常规方法。早期多用照相法,这种方法费时较长,强度测量的度低。50年代初问世的计数器衍射仪法具有快速、强度测量准确,半导体XRD检测平台,并可配备计算机控制等优点,已经得到广泛的应用。但使用单色器的照相法在微量样品和探索未知新相的分析中仍有自己的特色。从70年代以来,随着高强度X射线源(包括超高强度的旋转阳极X射线发生器、电子同步加速辐射,高压脉冲X射线源)和高灵敏度探测器的出现以及电子计算机分析的应用,使金属 X射线学获得新的推动力。这些新技术的结合,不仅大大加快分析速度,提高精度,而且可以进行瞬时的动态观察以及对更为微弱或精细效应的研究。
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