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- 2022-12-01 10:03:58
大功率XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
制作试片的技巧
压片法：粉末均匀撒入样品池——用小刀剁实压紧——刮去多余凸出的粉末
涂片法：粉末撒在25mm*35mm*1mm的载玻片上——滴上足量的或酒精（假如试样在其中不溶解）——待/酒精挥发
两种制备几乎无择优取向试片的方法：（塑合法）（喷雾法）
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~大功率XRD检测
大功率XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，甘肃大功率XRD检测，以及行业应用技术开发。
气相扩散法
A：良溶剂溶液，沸点较高
B：不良溶剂，沸点较低
常用溶剂体系：
适用于极性较大化合物：MF/；MF/己烷
适用于极性较小化合物：MF/水；DMSO/水
水热法或溶剂热法
适用于特别难溶的化合物 (如二维或三维配位网络)，经常在反应生成某种化合物的同时，生长其晶体。该方法有时可以得到其他方法无法得到的奇特结构；
需控制好溶剂和温度，高温条件下溶剂蒸汽自动产生一定压力，反应一段时间后，控制降温，冷却到室温之后，大功率XRD检测费用多少，收集晶体。
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5.自己使用仪器测试，测样前处理样品是否需要固体研磨时间？一份样品是否多测两次观察是否有较大差异？仪器是否有定期的矫正方法或者可以使用标准样品矫正？
答：一般情况下，大功率XRD检测分析，处理样品不需要固体研磨时间，只要样品的粒度达到要求即可；同一样品没有必要多测两次观察是否有差异，因为X射线衍射仪短期内是不会出现测样误差的；X射线衍射仪有定期的矫正方法，具体到不同型号方法不同，可以咨询应用工程师；也可以用标准物质进行矫正。
6.点光源和线光源测试的结果一致吗？
答：不一致，两种光源的应用范围不同，线光源用于常规粉末的定性定量分析、薄膜的掠入射和反射率分析等；点光源常用于织构、应力、微区等分析。
7.块体样品在对峰时需要注意什么？
答：块体样品在对峰时需要注意的地方和粉末样品一样；在测试的时候需要注意块体的高度，如果过高的话，X射线会打到块体的侧面，影响实验结果。
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