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- 发布时间
- 2022-12-05 15:53:53
AlGaN材料XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
9.diamond打开cif 显示的是堆积图，可以用cif 画/显示一个分子吗？
答：可以的，有个Add atoms按钮，可以添加自己想要的原子。
10.解完单晶后B类错误的解释要写在文章哪个部分？解好的结构怎么上传到ccdc拿到自己晶体的号码？
答：这个可以在cif文件端，加个Respe回答一下原因，再重新check一下。CCDC号在CCDC上就可以申请。
11.MOF单晶培养的关键点和技巧有哪些？药剂浓度大概多高合适？溶剂的选择依据？
答：MOF类单晶大部分通过溶剂热法来培养，这个主要影响因素有配制的比例、设置的实验温度、溶剂的选择。药剂浓度没有推荐的，每个单晶有自己合适的比例，需要通过做不同组的实验去获得。溶剂的选择，应尽量避免和之类含有重原子并且通常会在晶体中形成无序结构的溶剂。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~AlGaN材料XRD检测
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要确认是否为新相（新结构）由于晶体组成和衍射强度分布基本一致，就可以看出该样品其实具有文献报道的晶体结构。不能简单地因为衍射图中峰位与文献数据有偏移，就推断为新相。由于样品组成（形成一定范围的固溶体）和制备条件的不同、以及其它实验条件（衍射仪零点校正、样品偏心误差等）的不同，河北AlGaN材料XRD检测，都能导致衍射峰位的偏移。如样品的晶胞参数与文献数据略有不同，就必然造成衍射峰的偏移。
所以，要确定是否为新相，除了要检索PDF卡片和有关晶体学数据库 （如无机晶体数据库ICSD等相关数据库）外，也要查阅近年来有关的文献。这些文献上发表的晶体结构可能还没有收录到现在的数据库中。这一点应该引起重视。
总之，如果从样品组成、指标化结果、衍射图强度分布等看出自己样品的主相与以前测定过的结构基本相同，就不要轻易判断为新相。这样，按照以前报道的晶体结构来理解和处理就行了。
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1）若样品为退火态粉末，此时无应变产生，衍射线宽化完全因样品晶粒尺寸过小导致的，此时应选择SIZE only。
2）若样品为合金块状样品 ，结晶完整且加工过程中没有破碎，此时，线性宽化是由微观应变引起的，选择Strain only。
3）如样品存在上述两种情况，则应选择size/strain。
注意
a.利用XRD进行晶粒大小计算时，AlGaN材料XRD检测哪里可以做，前提是假定晶粒为“球形”，AlGaN材料XRD检测哪家好，所以其测出来的粒径不是很可靠，结果总是小于SEM和TEM，但无法进行和TEM时，其结果仍具有一定的参考依据。
b.该方法获得的晶粒尺寸是平均晶粒尺寸，是不同晶面上各衍射方向晶粒度大均值，若需要计算某一晶面上的晶粒尺寸，可采用“计算峰面积”命令。
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