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- 2022-12-24 15:18:02
单晶XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,单晶XRD检测多少钱,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
XRD定性分析
实际上,XRD作为定性分析手段并不是盲目的,不是所有情况都需要通过Jade对样品进行Search amp; Match, 而实际上Jade由于标准卡片的数目限制也无法涵盖所有物质的标准谱图。因此,借助分析软件只是为了便利,从根本上来说,重要的是XRD谱图本身。这一点和物理吸脱附实验一样,关键的是吸附等温线,而比表面积,孔容孔径只是采用理论模型针对吸附等温线进行处理而已。这个本末关系大家一定要搞清楚。
为了强调XRD谱图本身的重要性,采用合金的形成与否作为例子进行简单地介绍。对于双金属(多金属)纳米颗粒而言,XRD是一种常见的判断其是否形成合金的手段。判断的依据不是基于JCPDS标准图谱,而仅仅基于XRD衍射图样。
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多尝试、详细记录单晶生长有很大偶然性。可采取少量样品多溶剂体系的办法反复尝试,提高成功的概率。例如,有 50 mg 样品,可以同时实验 5 种溶剂体系,每种溶剂体系尝试两次,每次 5 mg 。注意做好记录,以免重复采用已经失败的溶剂体系,而且单晶解析时往往需要知道所用的溶剂。
实验记录要详细。有时候测出晶体结构之后,还要收集更多晶体,以研究相关性能。如果实验记录不够详细,很可能造成晶体生长无法重复的后果。
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XRD测试是可以测量块状和粉末状的样品,对于不同的样品尺寸和样品性质有不同的要求,下面是总结出来对测量块状和粉末状的样品的要求:
1)、金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨成一个平面,面积不小于10X10毫米,如果面积太小可以用几块粘贴一起。
2)、对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向,衍射强度异常。因此要求测试时合理选择响应的方向平面。
3)、对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变),测量残余奥氏体,要求样品不能简单粗磨,要求制备成金相样品,并进行普通抛光或电解抛光,消除表面应变层。
4)、粉末样品要求在3克左右,如果太少也需5毫克。要求磨成320目的粒度,单晶XRD检测测试,约40微米。粒度粗大衍射强度底,峰形不好,分辨率低。要了解样品的物理化学性质,如是否,易潮解,易腐蚀、有毒、易挥发。
5)、对于不同基体的薄膜样品,山西单晶XRD检测,要了解检验确定基片的取向,X射线测量的膜厚度约20个纳米。
6)、对于纤维样品的测试应该提出测试纤维的照射方向,是平行照射还是垂直照射,因为取向不同衍射强度也不相同。
7)、对于焊接材料,如断口、焊缝表面的衍射分析,要求断口相对平整。
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