江西大功率XRD检测 半导体XRD物相分析

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结晶度的计算实际上就是一种特殊的定量分析，其原理出自一个。知道怎么做定量，当然也会做结晶度的计算。

如果你还想知道得更多，比如无标样定量分析方法等等，可以参考李树棠老师的书，一本很老的书，我们当时的教材，叫做《金属X射线衍射与电子显微分析技术 1》在晶体之星可以到。后来，这本书叫做《晶体X射线衍射学基础》，冶金工业出版社出版，好象网上还没有电子版。也许书店有得卖。另外有一本叫做《X射线衍射技术及设备》，冶金工业出版社出版。丘利，胡玉和编著。你如果有这本书， X射线衍射方面的事情都可以先问它。如果你想通过全谱拟合的方法来计算定量，你得有一台好衍射仪。很多人都是用同步辐射光源来做。也有人用中子衍射来做。理学电机的18KW衍射仪也能做，因为它的功率大。不过，在衍射仪上做一个这样的测量需要几小时或者十几小时。

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四探针测试仪是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻等的测量仪器。

测量半导体电阻率方法的测量方法主要根据掺杂水平的高低，半导体材料的电阻率可能很高。有多种因素会使测量这些材料的电阻率的任务复杂化，包括与材料实现良好接触的问题。特殊的探头设计用于测量半导体晶片和半导体棒的电阻率。这些探头通常由诸如钨的硬质金属制成，并接地到探头。在这种情况下，接触电阻很高，必须使用四点共线探针或四线绝缘探针。两个探针提供恒定电流，另外两个探针测量整个样品一部分的电压降。通过使用所测电阻的几何尺寸来计算电阻率。lt; br /gt;lt; br /gt;著作权归作者所有。

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X射线衍射基本的应用就是鉴定物相。其它的应用都只有在物相鉴定完成以后才能做。那么物相是怎么鉴定出来的呢？

首先，X射线衍射方法只能证明一个物相的存在，而不能证明一个物相的不存在。

这是因为，X射线衍射强度是一个样品表面信息的统计结果。当一个物相的含量低于某一下限值（1%-10%左右，不同物相不同）时，XRD方法是不能检定一个物相的存在的。因此，如果你还想问“我的样品中有0.3%的Zr，大功率XRD检测费用多少，为什么在OM，TEM或SEM中可以看到它的存在，为什么用XRD做不出来呢？”这样的问题，说明你对XRD还不了解。

其次，并不是有了JADE就能一定分析出是什么物相。

JADE是一个PDF卡片的检索程序，大功率XRD检测多少钱，通过给定的条件从PDF卡片库中检索出“基本上符合条件的物相卡片”。但，这些卡片可能根本不是你的样品中存在的物相，因为有些物相并没有相应的PDF卡片。这时候，JADE就无能为力了。这时，你多可以检索出与实际物相结构相近的卡片。

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