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- 发布时间
- 2023-04-05 12:29:47
XRD小角度检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，XRD小角度检测机构，以及行业应用技术开发。
在布鲁克的自带软件中有一个软件叫做TOPAS，能做这方面的工作，但是，真正会用的人可能不是很多。在帕纳科的 xpert highscore里也有一个模块，可以做这个工作。理学电机的仪器使用美国的软件JADE。为什么JADE里没有这样的模块呢？其实是有的。你看过它的菜单Opti里有一个灰色的命令叫做“Easy ”(快速定量)的东西吗？有的人安装上JADE后，一看这个东西是灰色的，总以为自己的软件来路不正，是不是少了什么。可以说，真的没少什么。因为本来就没有这个东西。我们在买Jade 5时就期望这个东西在新版本中变成黑的。但是，买了Jade 6以后，这个东西还是灰的。但是，也可以说真的是少了点东西。少了定量这一块。原因就是这一块需要单独购买。因为大家都不买，所有大家都没得用。我不知道为什么大家都不买。我想不是因为大家都象我一样穷，可能的原因是，软件公司先有了菜单，后来想做这个程序，可能原先的想法相当于前面提到的半定量，帕纳科的软件里就有这个东西。但是，后来没有做了，因为技术进步了，形势改变了。现在干脆做成了一个很复杂的东西。这个东西也通过全谱拟合的方法来做定量分析。据说，这个东西的功能很强大，但是，要钱买。我没钱，XRD小角度检测实验室，没有买，因此也不知道到底怎么样。据说国内有人买了。不知道用得如何。另外，通过一些非X射线衍射的软件也能做这些工作，很多前辈在期刊上发表过一些。大家可以参考。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~XRD小角度检测
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细针状微晶粉末样品做 XRD 重复性很差。（制作粉末衍射样品片）怎么可以避免择优取向？
择优取向是很难避免的，只能尽力减少他的影响。
首先，你要讲样品磨得尽量细（但要适度，台湾XRD小角度检测，要注意样品的晶体结构不要因研磨过度而受到损坏）；
不要在光滑的玻璃板上大力压紧（压样时可以在玻璃板上衬一张粗糙的纸张），样品成形尽可能松一些；
制样过程中也可以掺一些玻璃粉，XRD小角度检测报告，或加一些胶钝化一下样品的棱角。
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XRD小角度检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
(用 X 射线衍射仪)做 X 射线衍射时，一些(仪器)参数对谱线有什么影响?
如何选择仪器参数主要取决于做 X 射线衍射的目的。比如：扫描速度，如果是一般鉴定就可以取快一些(4-8 度/分)，如果是精修晶胞参数就要扫慢一些;狭缝条件，狭缝越小分辨率越高，但强度就会减小，不宜快扫，这又要增加时间。
还要根据的样品的衍射能力、结晶 度等因素来定。如果是步进扫描：测定晶胞参数可以取每个步进度 1-30 秒，如果做结构精 测 30 秒到数分钟不等(对于普通功率的衍射仪，40kV、40mA)。
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