半导体XRD研究所 半导体XRD检测

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半导体XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。


然后再通过这个函数的强度来计算物相的含量。当然,这个思想不全是为了物相的定量计算,可能得到的数据多种多样。包括的晶胞参数、微观应变、晶粒尺寸等等,不一而足。使用这样的程序需要你掌握较好的晶体学知识(不是那种仅仅知道晶体是有序排列的知识水平),而且还要知道物相的晶体结构,以及对X射线衍射较深的掌握。

有一个程序,叫做Maud,是一个什么国家的人写的,我懒得去看了,这个程序就能做。不过,这个人可能太忙或者太懒或者认为自己的程序还没有达到要写一个使用说明的程度,因此,他还没有写出一个帮助文件来。一切都靠自己去摸索,摸透了的就能用,也许花上几个月时间还没有摸出头绪来也是可能的。




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同系列对比检索。

如果同时做的样品不止一个,而是一个系列。这个系列中的物相在变化。那么对比它们的图谱变化情况,就可能看出,哪些峰属于一个相,而另一组峰属于另一个相。再根据这些峰的位置来查找物相,也是一种检索的办法。

考虑实验条件。

有些时候实在分析不出来了,你可以考虑一下,你的样品是否有可能氧化、硫化、氯化等变数。往往就是这些原因,困住了你。把这些元素加入进去,也许一键敲定了。

天然还是人工合成。

一般来说,大自然形成的东西(天然矿物)的晶体结构比较简单,分子式不可能很复杂,人工合成则是另一码事,好象越复杂的东西越体现了水平。因此,如果分析天然矿物,不要选那种10个字符以上的分子式作为结果。




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假如,我们所测量的样品是一个整个的块体,广东半导体XRD检测,比如一块金属,也许刚刚铸造出来。情况算是很幸运的了。但是,我们的材料往往是要经过加工的。比如拉、拔、压、轧等等。在这个加工的过程中,晶粒总是通过一定的滑移面滑移,加工程度越高,晶粒排列得越整齐有序。我们称这种现象为“择优取向”或存在“织构”。一旦样品中存在择优取向,半导体XRD检测机构,所测量出来的衍射峰强度就不能与理论计算的(按完全无序)结果一致。你会发现,我们通常测量的衍射谱与PDF卡片上的强度比完全不对应。

也许强峰变成了不强的峰了,甚至弱到看不到了。你还怎么用“该物相的强峰”的强度来计算含量呢?也许有人会说,东方不亮西方亮,半导体XRD检测费用多少,一个物相总会有一个强峰呀。但是,此强峰不是彼强峰啊。它与本来的强峰的衍射角、多重因子、结构因子等等都是不同的,是的!于是,有人就想到了一个事情:“一个物相的总散射强度应当是不变的”。试图使用一定散射区内的全部衍射峰的强度来作为物相的衍射强度,当然,此时的RIR值也要用此区域内的全部衍射峰强度来计算。这还算简单的想法,




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