半导体XRD研究所 单晶XRD检测实验室 北京单晶XRD检测

单晶XRD检测XRD残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

如何看懂XRD图谱

XRD图谱峰的面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。峰窄说明晶粒大，可以用谢乐公式算晶粒尺寸。XRD图谱峰高如果是相对背地强度高，表示晶相含量高，跟面积表示晶相含量一致。

XRD图谱峰高如果是A峰相对B峰高很多，两峰的高度比“A/C”相对标准粉末衍射图对应峰的高度比要大很多，那么这个材料是A方向择优取向的热重曲线热重分析得到的是程序控制温度下物质质量与温度关系的曲线。

即热重曲线(TG）曲线，横坐标为温度或时间，单晶XRD检测哪家好，纵坐标为质量，也可用失重百分数等其它形式表示。由于试样质量变化的实际过程不是在某一温度下同时发生并瞬间完成的，因此热重曲线的形状不呈直角台阶状，而是形成带有过渡和倾斜区段的曲线。

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X射线小角散射（Small Angle X-ray scattering，SAXS）是通过收集X射线穿过样品之后产生的散射信号，来研究样品1~100 nm范围之内结构信息的技术。SAXS对样品的形式没有特定要求，块状，粉末和液体均可，但要求感兴趣的结构与周围环境有电子密度起伏，即衬度。

由于纳米颗粒形貌和尺寸会对其物化性能均会产生影响，为了实现更的纳米颗粒形貌和尺寸的分析，以便更好地利用纳米颗粒，采用更具有统计意义的SAXS技术是个非常必要的选择。首先利用TEM对纳米颗粒形貌及尺寸进行初步分析，然后采集不同的纳米颗粒分散液的SAXS数据，利用不同的形状因子（即，cube，sphere， 和superball）对数据进行分析得到了不同的p值。当p=1时，纳米颗粒为球形，当，纳米颗粒则为立方体。

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X射线衍射技术（XRD）在建筑材料检测中的应用

样品要求X射线衍射技术适用于多种类型产品的检测，送检样品可为粉末状、块状、薄膜、镀膜及其它形状。样品种类不同，北京单晶XRD检测，具体要求也有所区别：

①粉末样品需要量约为2g以上（视其密度和衍射能力而定），单晶XRD检测费用多少，送检粉末样品需预先干燥并研磨至大于200目；

②块状和薄膜样品要求宽度不小于1.5cm、厚度不大于0.5cm近似平面试样；

③对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层；

④若样品在空气中不稳定，会吸湿、风化、分解，则需采取保护隔离措施，若试样、、有毒，则应采取相应的防护措施。

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