半导体专用BX53M金相显微镜

半导体专用BX53M金相显微镜

     BX53M的MIX观察技术组合了明场和暗场照明方法。MIX照明滑块中的LED光源，以定向暗场光线照射样品。这种方式类似于传统暗场照明，但又可为LED的不同角度光线照射提供四分象限选择功能。这种定向暗场与明场、荧光、或偏光的组合称为MIX照明，有助于突出显示缺陷和区分隆起与凹陷表面。

明场将光线直接照射在样品上，暗场则使光线沿物镜的周围从侧面照射样品，突出显示了划痕和缺陷。

MIX观察是通过一个环形LED光源来形成明场、荧光或偏光与定向暗场的组合。可以调节LED光源，选择从哪个方向进行照明。该方法可在传统方法无法观察的表面上获得独有的对比度并可突出表面特征。

现在不需要电动载物台，仅仅移动手动载物台上XY旋钮即可方便而快捷地拼接图像。奥林巴斯Stream软件采用图案识别技术来生成全景图像，为用户提供了比单一画面更广阔的视野。

一枚硬币的即时MIA图像。

奥林巴斯Stream软件的景深扩展成像（EFI）功能能够获取高度超过物镜焦深的样品图像，把通过不同焦面的图像叠加在一起，创建出一幅超景深图像。可以使用手动或电动Z轴机构来执行EFI，并可创建一幅高度图，以轻松地识别样品结构。也可以用Stream桌面版在离线时创建EFI图像。

高动态范围（HDR）使用了先进的图像处理技术，能够针对一幅图像内的亮度差异进行调节，从而减少了眩光。HDR改善了数字图像的视觉效果，从而为用户制作报告时提供专业完美的图像。

借助HDR功能，同时清晰呈现出高光和暗调区域的细节
（样品：燃油喷射器）

借助HDR功能，增强了对比度
（样品：镁切片）

 

反射光显微镜应用于各行各业。以下仅为一些通过不同观察方法获得的效果示例，如 明场(BF)、 暗场(DF)、微分干涉差(DIC)、偏光(PL)、荧光(FL)、红外(IR)、和透射光(TL)。

DF(示例: 表面贴装基板）

DIC(示例:球墨铸铁腐蚀检测）

PL(示例: 绢云母)

FL(示例: 半导体晶圆上的颗粒异物)

IR(示例:电极切片)

TL(示例: LCD彩色滤光片)