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- 2026-01-16 09:30:00
电子零件的失效往往具有隐蔽性与累积性,常规功能测试难以覆盖长期使用中的性能衰减。寿命验证测试通过加速老化手段,在短时间内模拟数年甚至数十年的实际工况,为产品全生命周期可靠性提供数据支撑。
测试方法科学解析环境应力加速模型
依据Arrhenius方程与Peck模型,通过升高温度、湿度、电压等参数,加速材料氧化、离子迁移等失效过程,精准预测零件寿命。
电化学老化分析
针对电解电容、电池等元件,通过浪涌电压充放电试验与纹波电流测试,评估其电解质干涸、容量衰减等关键指标。
机械疲劳模拟
对PCB焊点、FPC柔性电路进行热循环(-40℃至125℃)与振动测试,分析微裂纹扩展对电气连接的影响。
多参数老化监控系统:支持电压、电流、温度、湿度等参数的实时采集与异常报警;
失效分析联动机制:若测试中发现异常,可无缝衔接SEM/EDS、X-Ray等非破坏性分析,快速定位失效根源;
云端数据平台:客户可通过专属账号远程查看测试进度、下载报告,提升协作效率。
典型应用案例案例1:车载充电模块验证
某客户的新能源汽车充电模块在高温测试中出现电容鼓包。通过H3TRB试验结合切片分析,发现电解液配方缺陷,优化后产品寿命提升3倍。
案例2:工业机器人连接器验证
针对频繁插拔导致的接触不良问题,通过5000次插拔寿命试验与接触阻抗监测,筛选出镀层厚度不足的批次,避免批量召回风险。
我们的测试服务符合IEC、JEDEC、AEC-Q等****,并可针对客户需求定制测试方案。例如,针对物联网设备的低功耗芯片,可设计间歇性偏压老化试验,模拟电池供电场景下的寿命衰减。
通过科学的寿命验证测试,客户不仅能规避市场风险,更可建立可靠性数据库,为下一代产品设计提供关键参考。