半导体分立器件测试用源表_数字触摸源表

 一个紧凑的单元中综合了如下功能：精密电压源、高精度电流源、数字多用表、任意波形发生器、电压或电流脉冲-每秒10,000个读数和5,500个源-测量点记录到存储器，提供了更快速的测试-内置的测试脚本处理器(TSP)提供非并行系统的自动化测试，将I-V测试的速度提高到同类产品的二到四倍。

武汉普赛斯仪表国产自主研发生产的数字源表能广泛的应用于各种电气特性测试中：半导体IC或元器件，功率器件，传感器，有机材料与纳米材料等特性测试和分析。

       S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电压、电流输入输出及测量等多种功能，最大输出电压达300V，最小测试电流100pA，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中:半导体IC或元器件，功率器件，传感器，有机材料与纳米材料等特性测试和分析。

Ø 5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作

Ø 内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV

Ø 源及测量的准确度为0.1%，分辨率5数位

Ø 四象限工作（源和肼），源及测量范围：电流100pA~1A，电压0.3mV~300V

Ø 丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

Ø 支持USB存储，一键导出测试报告

Ø 支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网

l 分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件；

l 能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等

l 传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等

l 有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等

l 纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等

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