XRD薄膜测试电话 江苏XRD薄膜测试 半导体单晶XRD靠谱

半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

测试说明

1.XRD测试默认采用铜靶，若您的样品为黑色金属(Fe/Mn/Cr/Ni/Co)及其合金，建议选择钴靶进行测试。2.对于晶粒比较小或晶型比较弱的样品请选择比较慢的扫描速率。

3.对于涂层材料或薄膜材料，XRD薄膜测试，当薄膜厚度较薄时建议选择小角掠射的模式进行测试。

4.XRD测试时间一般由扫描的角度范围和扫描速率决定测试时间=扫描角度范围/扫描速率;假如您的样品扫描角度范围是10-90°，扫描速率是10°/min，那么测试时间=80/10=8min。

5对于测试时间大于15min的样品，自动生成的价格为默认的基础价格，商家收到样品后会根据测试条件按收费标准进行修改，用户也可以在下单时联系商家进行修改后付款。

6如果样品的摇摆曲线和PHI扫描出峰效果比较好，可做倒易空间Mapping测试，否则不建议进行该项目的测试，倒易空间Mapping自动生成的价格为默认的基础价格，具体价格以沟通后确认的为准。

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特别是混合物，各相之间的MAC都随所选波长而变化，波长选择不当很可能造成XRD定量结果不准确。

　　因为不同元素MAC突变拥有不同的波长，该波长就称为材料的吸收限，若超过了这个范围就会出现强的荧光散射。所以分析样品中的元素选择靶材时，XRD薄膜测试哪里有，一般选择原子序数比靶的元素的原子序数小1至4。就会出现强的荧光散射。例如使用 Fe 靶分析主要成分元素为 Fe Co Ni 的样品是合适的，而不适合分析含有Mn Cr V Ti 的物质常见的阳极靶材有：Cr， Fe， Co， Ni， Cu， Mo， Ag， W，常用的是Cu靶。

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XRD结晶度计算公式和分析方法是什么？

XRD结晶度是根据部分结晶聚合物的X射线衍射强度峰总面积中晶区部分贡献的百分数计算的结晶度。

　　分析方法：

　　已知波长的X射线来测量θ角du，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析zhi；dao另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。

　　分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ为X射线的波长，n为任何正整数，又称衍射级数。

　　当X射线以掠角θ(入射角的余角)入射到某一点阵平面间距为d的原子面上时，在符合上式的条件下，将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。

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