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XRD倒易空间(RSM)检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,XRD倒易空间(RSM)检测服务,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。


什么样的样品适合生长单晶?分子结构角度考虑:

刚性化合物比柔性的更容易,链超过4 个碳的一般难以培养单晶;

从晶体学家角度考虑,分子中好不含叔丁基,因为容易无序,影响单晶解析的质量,贵州XRD倒易空间(RSM)检测,但是从化学角度考虑,叔丁基可增加溶解度,所以也经常使用。和根等也存在类似的问题;

更换取代基有时会有理想的效果。如 4-取代化合物比取代化合物往往容易长单晶。

外观角度判断培养前景:

旋蒸或简单重结晶所得样品,如果光泽很好 (不是贴在烧瓶内壁的一层薄膜刮下来之后产生的光泽),在显微镜下观察,如果是块状,有规则外形,则容易生长;

油状物很难长出单晶,经过进一步提纯后再去培养。




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动力学衍射理论

Ewald的理论称为动力学理论。该理论考虑到了晶体内所有波的相互作用,认为入射线与衍射线在晶体内相干地结合,而且能来回地交换能量。两种理论对细小的晶体粉末得到的强度公式相同,而对大块完整的晶体,则必须采用动力学理论才能得出正确的结果。

布拉格方程

1913年英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在劳厄发现的基础,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,XRD倒易空间(RSM)检测价格,并提出了作为晶体衍射基础的公式──布拉格方程:2dsinθ=nλ

式中d为晶面间距;n为反射级数;θ为掠射角;λ为X射线的波长。布拉格方程是X射线衍射分析的根本依据。



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计数管法

用X射线测定应力,其精度受到许多因素的影响,如被测试件材料的结构、晶粒的粗细程度、衍射面的选择、X射线的波长、采用的测量方法、被测试件表面的平滑度和处理情况等。

70年始使用的多缝平行光阑的平行光束X射线应力测定仪,具有限制X射线入射和衍射光束的水平发散度的效能,提高了测量的精度。X射线测定应力的精度,已能达到±(1~2)千克力/毫米2。




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