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- 2022-12-16 13:51:42
XRD薄膜检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
做钴酸锂 XRD 衍射实验时，在 X 衍射仪上做出的衍射图片，个衍射峰特别高，其他的衍 射峰特别低，不成比例，是仪器本身的原因，还是发生了择优取向，请各位高手指点。
不知你是用钴酸锂粉末做的实验，还是多晶膜等？如果是粉末，那可能就是择优取向了。
化学沉淀法从氨氮废水中结晶出磷酸铵镁，XRD 与标准 JCPDS 相比衍射峰有规律向左偏移，这表达什么晶体结构的信息啊？
如果各峰的偏移基本上是一个固定值，原因是 2θ零位不正确；样品平面后仰；组成偏离化学式，未知的偏离导致晶格变大了一些。
用 Jade5 软件可以进行 XRD 定量分析吗?
XRD定量分析的基础数据是样品中各组成物相的强度数据（原理上应该用峰的面积数据），XRD薄膜检测平台， 余下的工作便是些乘除比例的运算了，使用表格软件（如 WPS Ofice 的"WPS 表格"、微软的Excel）完成甚为方便。因此，山东XRD薄膜检测，使用任一能够获得峰面积或峰高的软件工具都可以进行XRD定量分析，当然，有Jade 软件更为方便。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~XRD薄膜检测
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X-射线照射到超细粉末颗粒（粒径小于几百埃，不管其是晶体还是非晶体）也会发生相干散射现象，也发生在低角度区。但是由微细颗粒产生的相干散射图的特征与上述的由超大晶面间距或薄膜产生的小角 X 射线衍射图的特征完全不同。小角衍射，一般应用于测定超大晶面间距或薄膜厚度以及薄膜的微观周期结构、周期排列的孔分布等问题；小角散射则是应用于测定超细粉体或疏松多孔材料孔分布的有关性质 。
X-射线照射到样品上还会发生非相干散射，其强度分别也主要集中在在低角度范围，XRD薄膜检测测试，康普顿散射就属于此类，其结果是增加背景。
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我做的是磷矿粉的 XRD，它属于六方晶系。请问有没有能计算晶胞参数的程序以及程序的用法？
先您应该要求给您作衍射的实验室提供d值和强度的衍射数据，XRD薄膜检测分析，然后检索ICDD 卡片。如果你把这个物相的卡片数据检索到了，那么你的问题就是晶胞参数精修了， Chekcell精修晶胞参数。如果你还想计算结晶粒度的大小，建议你用一些全谱拟合的软件，如Fullprof 等，这样，不仅可以精修晶胞参数，同时也可以得到半高宽或积分宽度的数据，可以用于结晶粒度计算。关注材料基公众号，学习更多技能。当然，要计算结晶粒度，好还要进行仪器校正曲线的测定，一般在收集你的实验样品的同时，再在相同条件下收集标准样品（LaB6，标准 Si 等）的谱图，以便扣除仪器对半高宽或积分宽度的贡献。
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