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- 2022-11-26 10:09:30
XRD摇摆曲线检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
薄膜的XRD测试
有部分同学的研究可能会涉及到涂层薄膜的研究，比如在玻璃基底上生长电池材料薄膜，这种样品由于绝大多数都是多晶状态，XRD摇摆曲线检测平台，而且厚度有限（通常从几十纳米到微米），如果用常规XRD方法测试，由于在衍射方向薄膜样品厚度非常小，导致参与衍射的晶面非常少，造成样品信号很难测出。
这时我们就需要采用掠入射X射线衍射(GIXRD)的办法对样品进行测试，福建XRD摇摆曲线检测，掠入射XRD实质是通过X射线小角度照射样品，使更多的晶粒参与衍射，以弥补常规衍射方向厚度的不足，它使x射线束的穿透力被极大的限制，大大提高了分析样品的表面分析灵敏度，且能分析体积相对较大的样品。
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关于试片平面的准备
一般讲，尺寸细且均匀，颗粒成球状，性质比较稳定的粉末样品是比较理想的。
关于压制样品：一般的粉末样品好能够盖满整个样品槽，较少的时候沿着与光源垂直的方向成一个线状分布也可以，压的时候不要用太大力气，对于一些粘性比较大的样品可以先蒙上一张称量纸，上面用玻璃片轻轻压平，然后将称量纸轻轻取下来即可。
需要注意的问题：对于同一系列的样品，如果力道差别很大，就会引起样品密度的变化，XRD摇摆曲线检测分析，从而会使衍射的强度受到影响。
关于试片的厚度
X射线的穿透能力很强，一般在10μm~20μm的数量级。所以必须考虑试样的厚度
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5.精修的时候Size是怎么知道的？
答：通过单晶衍射仪，晶体在衍射环中的大小来预估的。
6.checkcif报告算是一个确认解析正确无误的可信依据吗？没有错误在里面就行吗？
答：对的，没有严重的A和B类错误，是可以发表的。
7.如果解出来的结构有disorder作图的时候就是那样全部保留着作图 ，还是删掉低占有率的，然后再作图啊？还有这个diamond出的图感觉清晰度好像也不是那么清楚， 怎么把出图的清晰度调高一些啊？
答：结构中有无序disorder时，把占有率低的一半原子删掉，保留占有率高的一半。在Diamond软件里有个Picture，选Layout，里面有可以调图片大小和分辨率的。
8.合成出2到3mm大小的单晶，这个尺寸适合拿来单晶测试吗？
答：这个尺寸大了，理想尺寸是0.3-0.5mm。但是过大的尺寸，我们可以通过刀来进行切割后再测试。
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