半导体XRD薄膜测试 XRD掠入射（GIXRD）检测服务

XRD掠入射（GIXRD）检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

样品的挑选：

宏观特征：应该是透明，没有裂痕，表面干净，有光泽。（不是所有晶体都是透明的，XRD掠入射（GIXRD）检测服务，但是好的晶体样品一定是没有裂痕的且没有明显的突出和凹陷，因为裂痕处会产生晶格错位，影响测试结构的准确性）

形貌特征：晶体样品如果是圆球状，那么这个晶粒样品很可能是非晶态，XRD掠入射（GIXRD）检测平台，在测试过程中无法出现衍射图谱。晶体样品如果是树枝状活簇状晶体，尽量不要在这些上切割一个晶粒，好选择单一的一粒，因为切割会影响测试结果。

其他特征：晶体样品一般不溶于水，一般溶于水的样品都是无机盐。

样品的大小：

光源所带的准直器的内径决定了X射线强度一致区域的大小，晶体的尺寸一般不能超过准直器的内径（常用的为0.5-0.6mm）。（我们要求是大于50微米）

晶体合适的尺寸是：纯有机物0.3-0.7mm，金属配合物或金属有机物0.15-0.5mm，纯无机物0.1-0.3mm。

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XRD的图谱怎么看？有的同学做了XRD测试项目，但是不知道图谱怎么看，所以针对这个问题，小编整理的相关信息，希望能帮到你们。

我们先来看一下XRD的原理：

当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。这就是X射线衍射的基本原理。

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9.diamond打开cif 显示的是堆积图，可以用cif 画/显示一个分子吗？

答：可以的，甘肃XRD掠入射（GIXRD）检测，有个Add atoms按钮，可以添加自己想要的原子。

10.解完单晶后B类错误的解释要写在文章哪个部分？解好的结构怎么上传到ccdc拿到自己晶体的号码？

答：这个可以在cif文件端，加个Respe回答一下原因，再重新check一下。CCDC号在CCDC上就可以申请。

11.MOF单晶培养的关键点和技巧有哪些？药剂浓度大概多高合适？溶剂的选择依据？

答：MOF类单晶大部分通过溶剂热法来培养，这个主要影响因素有配制的比例、设置的实验温度、溶剂的选择。药剂浓度没有推荐的，每个单晶有自己合适的比例，需要通过做不同组的实验去获得。溶剂的选择，应尽量避免和之类含有重原子并且通常会在晶体中形成无序结构的溶剂。

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半导体XRD薄膜测试-XRD掠入射（GIXRD）检测服务由广东省科学院半导体研究所提供。广东省科学院半导体研究所为客户提供“结构性能测试,光电性能测试,性能形貌测试”等业务，公司拥有“半导体”等品牌，专注于技术合作等行业。，在广州市天河区长兴路363号的名声不错。欢迎来电垂询，联系人：王小姐。